يعتبر هذا المجهر من افضل الانواع التى تعطى درجة عالية من الوضوح وهذا النظام يحتوى على برامج سهلة الاستخدام تمكن المستخدم من عمل بعض القياسات على العينات. ويمكن الحصول على القياسات بوحدات النانوميتر والميكروميتر. كما يعطى هذا المجهر تفاصيل دقيقة لسطح العينة تمكن المستخدم من معرفة بعض خواصها الفيزيائية والكيميائية.
The complete range of Atomic Force Microscopy (AFM) and Scanning Tunneling Microscopy (STM) techniques is available with the Multimode SPM:
- Contact Mode AFM
- Phase Imaging Microscopy
- Electric Force
- Surface Potential Microscopy
- Lateral Force Microscopy (LFM)
- Nanoindenting/Scratching
- Force Volume
- Electrochemical Microscopy (ECSTM and ECAFM)
- Tapping Mode AFM
- Non-contact AFM
- Magnetic Force Microscopy (MFM)
- Lift Mode
- Force Modulation
- Scanning Thermal Microscopy (SThM)
- Force-Distance Measurements
- Scanning Tunnelling Microscopy (STM)